Mesure des tensions superficielles résiduelles par diffraction des rayons X sur les matériaux métalliques à base de fer, d'aluminium, de nickel et de cuivre.

Ce service est effectué à l'aide d'un appareil Xstress 3000 G2R portable. La technique utilisée est basée sur la diffraction des rayons X, en utilisant une anode de chrome avec laquelle les tensions dans les matériaux cristallins à base de fer, d'aluminium, de nickel et de cuivre peuvent être évaluées.
Elle permet de même de connaître quantitativement la valeur des tensions internes présentes dans une pièce ou un composant inhérents à son processus d'obtention.
Les mesures sont effectuées conformément à la norme UNE-EN 15305 « Méthode d'essai pour l'analyse de la contrainte résiduelle par diffraction des rayons X » et répondent aux exigences établies par TECNALIA en tant qu'installation radioactive reconnue IRA/3025.
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