«Este nuevo recurso fortalecerá aún más nuestra capacidad para ofrecer soluciones innovadoras que impulsen el desarrollo de nuevos materiales»
Descubre la caracterización de materiales a escala nanométrica con nuestro microscopio electrónico FE-SEM de alta resolución
El laboratorio de materialografía de TECNALIA ha adquirido un microscopio electrónico de emisión de campo (FE-SEM) que está especialmente indicado para la caracterización superficial en una amplia variedad de campos; desde la ciencia de materiales hasta la medicina y biología.
El FE-SEM es una herramienta de vanguardia que permite obtener imágenes a escala nanométrica con una resolución sin precedentes.
- Su capacidad para realizar análisis semi-cuantitativos a alta velocidad lo convierte en una herramienta indispensable para la caracterización de una amplia variedad de muestras, incluyendo materiales metálicos, no metálicos e incluso aquellos sensibles al calor.
- Este microscopio cuenta con una configuración de alto y bajo vacío, lo que facilita el análisis tanto de muestras conductoras como no conductoras.
- Por último, se puede trabajar a bajos potenciales de aceleración que permitirán observar muestras sensibles al calor como muestras biológicas, membranas o composites ligeros.
El microscopio electrónico de emisión de campo (FE-SEM) analiza una amplia gama de materiales
- Metales y aleaciones: acero, aluminio, cobre, titanio, hierro, níquel, entre otros.
- Cerámicas y materiales cerámicos: óxidos metálicos, cerámicas avanzadas, materiales refractarios, vidrios.
- Polímeros y materiales compuestos: plásticos, elastómeros, polímeros reforzados con fibra, compuestos de matriz polimérica, resinas.
- Materiales semiconductores: silicio, germanio, arseniuro de galio, nitruro de galio, materiales dopados.
- Materiales biológicos: células, tejidos biológicos, virus, bacterias.
- Materiales orgánicos: compuestos orgánicos, materiales sintéticos, polímeros orgánicos.
- Materiales sensibles al calor: materiales que pueden ser afectados por altas temperaturas, como polímeros termoplásticos, materiales orgánicos termoestables, entre otros.
- Materiales nanoestructurados: nanopartículas, nanotubos de carbono, nanocompuestos, materiales con dimensiones en la escala nanométrica.
Ventajas de trabajar con un FE-SEM
Las grandes ventajas de trabajar con un FE-SEM son la resolución espacial mejorada (con un haz de electrones de alta y baja energía muy focalizado), una mayor velocidad analítica y la posibilidad de realizar análisis a muestras no metálicas y/o sensibles al calor.
Desde la identificación de defectos en la superficie hasta el estudio de la microestructura de materiales, el FE-SEM ofrece una visión detallada que facilita la toma de decisiones informadas en el desarrollo de productos y procesos.
Con la incorporación del FE-SEM, TECNALIA reafirma su compromiso de proporcionar a sus clientes las herramientas más avanzadas para abordar los desafíos más complejos en investigación y desarrollo de materiales.
