Gainazaleko hondar-tentsioak neurtzea burdina, aluminioa, nikela eta kobrea oinarri duten materialen gainean X izpiak difraktatuta.

XSTress 3000 G2R ekipamendu eramangarri batekin egiten da zerbitzu hori. X izpien difrakzioan oinarritzen da teknika, eta burdina, aluminioa, nikela eta kobrea oinarri duten material kristalinoetan tentsioa ebaluatzeko aukera ematen duen kromo-anodo bat erabiltzen da. Halaber, pieza edo osagai batek lortzeko erabilitako prozesuaren ondorioz dituen barne-tentsioen balio kuantitatiboa jakin daiteke. UNE-EN 15305 “X izpien difrakzio bidez hondar-tentsioa analizatzeko saiakuntza-metodoa” arauaren arabera egiten dira neurketak, eta IRA/3025 instalazio erradioaktibo gisa onartzeko TECNALIAn ezarritako eskakizunak betetzen dituzte.
Sartu zientzia-dibulgazio, produktu, zerbitzu eta teknologia katalogoetan. Gure helburu nagusia ezagutza zientifikoa berrikuntza eta eragin ekonomiko eta soziala sortzen duten irtenbide teknologiko bihurtzea da.